[发明专利]基于压电石英晶片弯曲效应的弯矩测量方法及传感器在审
| 申请号： | 201610850041.9 | 申请日： | 2016-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN106441665A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 高长银;刘丽;侯军兴;王亚杰 | 申请（专利权）人： | 郑州航空工业管理学院 |
| 主分类号： | G01L3/02 | 分类号： | G01L3/02 |
| 代理公司： | 郑州金成知识产权事务所(普通合伙)41121 | 代理人： | 郭增欣 |
| 地址： | 450000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于压电石英晶片弯曲效应的弯矩测量方法及传感器，利用具有弯曲效应的压电石英晶片组成弯矩测量敏感元件，当受到弯矩作用时，在晶片表面上产生的束缚电荷以光轴为分界线两半平面上所产生的电量大小相等，符号相反，并且所施加的弯矩与产生的束缚电荷成线性关系，进而准确测出弯矩值；所述弯矩测量敏感元件通过分割电极电荷组合法组成弯矩测量晶组，所述弯矩测量晶组产生的输出电荷经过导线由输出接头引出体外，通过电荷放大器放大成电压信号，再由数字表或计算机记录结果。本发明采用压电弯曲效应直接测量弯矩，而不是利用传统剪切效应，剪切力乘力臂的方法计算弯矩，简化了中间环节，提高了测量精度和准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 压电 石英 晶片 弯曲 效应 弯矩 测量方法 传感器 | ||
【主权项】：
一种基于压电石英晶片弯曲效应的弯矩测量方法，其特征是：利用具有弯曲效应的压电石英晶片组成弯矩测量敏感元件，当受到弯矩作用时，在晶片表面上产生的束缚电荷以光轴为分界线两半平面上所产生的电量大小相等，符号相反，并且所施加的弯矩与产生的束缚电荷成线性关系，进而准确测出弯矩值；所述弯矩测量敏感元件通过分割电极电荷组合法组成弯矩测量晶组，所述弯矩测量晶组产生的输出电荷经过导线由输出接头引出体外，通过电荷放大器放大成电压信号，再由数字表或计算机记录结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于郑州航空工业管理学院，未经郑州航空工业管理学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610850041.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种开关磁阻电机转矩测量仪
- 下一篇：一种水平直线导轨上滑块的摩擦力测量方法
