[发明专利]光学检测机有效
| 申请号： | 201610853328.7 | 申请日： | 2016-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN106972831B | 公开（公告）日： | 2019-01-29 |
| 发明（设计）人： | 詹凱劭;赖美丞;林政宽;薛名凱 | 申请（专利权）人： | 致茂电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H02S50/15 | 分类号： | H02S50/15 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;鲍俊萍 |
| 地址： | 中国台湾桃*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种光学检测机包含一架体及一光源。架体具有一光源设置空间、一待测物设置空间及一检测口。光源设置空间位于待测物设置空间上方，且光源设置空间通过检测口连通待测物设置空间。光源可滑动地位于光源设置空间，且光源的滑动方向非平行于检测口的中心轴线，以令光源具有一检测位置及一清除位置。当光源位于检测位置时，光源遮盖检测口。当光源位于清除位置时，光源相对偏离检测口的中心轴线而显露出至部分部检测口。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 | ||
【主权项】：
1.一种光学检测机，其特征在于，包含：一架体，具有一光源设置空间、一待测物设置空间及一检测口，该光源设置空间位于该待测物设置空间上方，且该光源设置空间通过该检测口连通该待测物设置空间；以及一光源，可滑动地位于该光源设置空间，且该光源的滑动方向非平行于该检测口的中心轴线，以令该光源具有一检测位置及一清除位置，当该光源位于该检测位置时，该光源遮盖该检测口，当该光源位于该清除位置时，该光源相对偏离该检测口的中心轴线而显露出至少部分该检测口。
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