[发明专利]基于同步扫描和频半导体激光的汞气检测装置在审

专利信息
申请号: 201610853914.1 申请日: 2016-09-28
公开(公告)号: CN106404690A 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 娄秀涛;张铁;林宏泽;万莉;王俊楠;何赛灵 申请(专利权)人: 苏州瑞蓝环保科技有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 南京知识律师事务所32207 代理人: 汪旭东
地址: 215500 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提出了一种基于两只半导体激光器的气态元素汞浓度检测装置,包括激光器控制器,红光半导体激光器,蓝光半导体激光器,二色向镜,消色差凸透镜,偏硼酸钡(BBO)晶体,凸透镜,紫外高反镜,分光镜,参考汞池,零气气池,样品汞池,可切换汞池座,探测器,信号控制分析器,所涵盖的技术主要是内插法,实现了对元素汞浓度的实时监测,满足工业汞排放监测需求。
搜索关键词: 基于 同步 扫描 半导体 激光 检测 装置
【主权项】:
一种基于同步扫描和频半导体激光的汞气检测装置,其特征在于它由红色半导体激光器,蓝色半导体激光器,二色向镜,消色差凸透镜,偏硼酸钡晶体,凸透镜,第一紫外高反镜,第二紫外高反镜,分光镜,第三紫外高反镜,可切换汞池座,样品气池,第一探测器,第二探测器,信号控制分析器组成,信号控制分析器的电流与温度控制输出端与红色半导体激光器和蓝色半导体激光器的电流与温度控制输入端连接,蓝色半导体激光器发出的光束和红色半导体激光器发出的光束经二色向镜反射,两束光束重合并打在消色差凸透镜上,后聚焦到偏硼酸钡晶体中心,经偏硼酸钡晶体的出射光经凸透镜准直,依次经过第一紫外高反镜,第二紫外高反镜,并经分光镜分成两束,一束光经入射至可切换汞池座,上面安装有不同厚度的参考汞池以及零气气池,透射光被第一探测器接收;另一束光经过第三紫外高反镜反射后通过样品气池,再被第二探测器接收,两路探测器输出的电信号接入信号控制分析器进行信号处理,信号控制分析器的三个输出端分别连接红光半导体激光器、蓝光半导体激光器以及可切换汞池座。
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