[发明专利]一种电子产品外观表面缺陷检测装置及其检测方法在审
| 申请号： | 201610853917.5 | 申请日： | 2016-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN106770307A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 刘哲;于涛;杨飞飞 | 申请（专利权）人： | 西京学院 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 西安西达专利代理有限责任公司61202 | 代理人： | 高亦哲 |
| 地址： | 710199 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种电子产品外观表面缺陷检测装置及其检测方法，包括检测物外壳，双远焦镜头上端设有高精度CCD相机，下端设有组合照明系统同轴光源，组合照明系统同轴光源下端设有组合照明系统球积分光源，组合照明系统球积分光源内放置检测物外壳，涉及CCD图像采集、光学照明、图像处理、表面缺陷检测技术，主要用来解决金属材质电子产品外观外表缺陷检测，首先通过机器视觉采集系统进行外观成像其次对图像进行相应软件算法处理，通过图像采集方法和一种新型的图像处理方式，能够较好解决缺陷检测难的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子产品 外观 表面 缺陷 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种电子产品外观表面缺陷检测装置，包括检测物外壳（5），其特征在于，双远焦镜头（1）上端设有高精度CCD相机（2），下端设有组合照明系统同轴光源（4），组合照明系统同轴光源（4）下端设有组合照明系统球积分光源（3），组合照明系统球积分光源（3）内放置检测物外壳（5）。
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