[发明专利]金相组织检测方法在审
| 申请号： | 201610854074.0 | 申请日： | 2016-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN107870112A | 公开（公告）日： | 2018-04-03 |
| 发明（设计）人： | 姚力军;潘杰;相原俊夫;王学泽;胡淼锡 | 申请（专利权）人： | 宁波江丰电子材料股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/32 | 分类号： | G01N1/32;G01N1/28;G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 徐文欣,吴敏 |
| 地址： | 315400 浙江省宁波*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种金相组织检测方法，包括提供钴样品，所述钴样品包括观察面，所述观察面具有凹陷；对所述钴样品观察面进行电解抛光处理，减小所述钴样品观察面的凹陷的深度；电解抛光处理之后，对所述钴样品观察面进行检测。电解抛光处理能够使所述钴样品表面的钴样品材料溶解，且在电解抛光的过程中，凸出表面的部分钴样品材料溶解的速率较快，从而使所述钴样品观察面的凹陷减少，使钴样品表面更光洁，进而能够更容易观地察所述钴样品观察面的晶界。 | ||
| 搜索关键词： | 金相 组织 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种金相组织检测方法，其特征在于，包括：提供钴样品，所述钴样品包括观察面，所述观察面具有凹陷；对所述钴样品观察面进行电解抛光处理，减小所述钴样品观察面凹陷的深度；电解抛光处理之后，对所述钴样品观察面进行检测。
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