[发明专利]锁相放大器测试结构和方法在审
| 申请号： | 201610860005.0 | 申请日： | 2016-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN106483402A | 公开（公告）日： | 2017-03-08 |
| 发明（设计）人： | 邓仕发;潘奕;李辰;丁庆 | 申请（专利权）人： | 深圳市太赫兹科技创新研究院;深圳市太赫兹系统设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518102 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种锁相放大器测试结构，其测试信号发生装置包括信号源模块，用于产生纯信号；噪声模块，用于产生噪声；加法电路，两个输入端分别连接所述信号源模块和噪声模块，用于将纯信号和噪声叠加获得测试信号以输入所述锁相放大器；其中，信号源模块与加法电路连接的支路上设有第一开关，噪声模块与加法电路连接的支路上设有第二开关。上述测试结构通过控制开关，能使得测试信号为纯噪声或者混叠信号，这样在不同的噪声频带范围及幅值范围内对锁相放大器的抗噪声能力进行测试，得到频率很接近的参考信号的噪声分布情况，同时对锁相放大器其他参数的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 放大器 测试 结构 方法 | ||
【主权项】：
一种锁相放大器测试结构，包括锁相放大器和对锁相放大器参数进行测试的测试信号发生装置和参考信号发生装置，所述测试信号发生装置与锁相放大器的信号输入端连接，所述参考信号发生装置与锁相放大器的参考信号端连接，其特征在于，所述测试信号发生装置包括：信号源模块，用于产生纯信号；噪声模块，用于产生噪声；加法电路，两个输入端分别连接所述信号源模块和噪声模块，用于将所述纯信号和噪声叠加获得测试信号以输入所述锁相放大器；其中，所述信号源模块与加法电路连接的支路上设有第一开关，所述噪声模块与加法电路连接的支路上设有第二开关。
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