[发明专利]一种X射线线阵探测器校正与滤波方法有效
| 申请号： | 201610860202.2 | 申请日： | 2016-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN106645220B | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 耿磊;马潇;肖志涛;吴骏;张芳;彭晓帅 | 申请（专利权）人： | 天津工业大学 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 11371 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 刘曾 |
| 地址： | 300387 *** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种X射线线阵探测器校正与滤波的方法。该方法首先使用X射线线阵探测器采集图像数据，然后使用改进的两点校正模型对数据求解补偿增益因子和补偿偏置量因子进行校正。最后运用基于半隐式差分格式的偏微分方程处理算法滤除本底噪声、随机噪声、孤立噪声，解决了X射线图像由于像素响应不均和掺有噪声影响使得图像中含有条纹及细节模糊的问题。与传统方法相比，本发明处理后的数据结果平均均方误差更小，校正与滤波的效果更佳，有利于提高X射线检测质量。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 探测器 校正 滤波 | ||
【主权项】：
1.一种X射线线阵探测器校正与滤波方法，包括下列步骤：/n(1)利用X射线线阵探测器采集数据；/n(2)建立两点校正模型；/n(3)建立求解补偿增益因子和补偿偏置因子模型；/n(4)半隐式差分格式的建立：设I:R
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