[发明专利]一种原子级平整Sr/Si(100)-2×3再构表面的制备方法有效

专利信息
申请号: 201610860393.2 申请日: 2016-09-28
公开(公告)号: CN106399929B 公开(公告)日: 2018-10-30
发明(设计)人: 杜文汉;杨景景;熊超;朱锡芳 申请(专利权)人: 常州工学院
主分类号: C23C14/02 分类号: C23C14/02;C23C14/28;C23C14/30;C23C14/16;C23C14/58
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 高桂珍
地址: 213022 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种原子级平整Sr/Si(100)‑2×3再构表面的制备方法,属于纳米领域。本发明的一种原子级平整Sr/Si(100)‑2×3再构表面的制备方法,以单晶硅(100)片为衬底,其步骤为:1)衬底清洗;2)去除衬底表面氧化硅,同时制备出Si(100)‑2×1再构表面;3)在具有Si(100)‑2×1再构表面的衬底上制备亚单层金属锶薄膜;4)制备原子级平整Sr/Si(100)‑2×3再构表面。本发明步骤简单,操作方便,获得原子级平整的Sr/Si(100)‑2×3再构表面,并能精确确定Sr/Si(100)‑2×3再构表面上锶的覆盖度为1/6个单原子层。
搜索关键词: 制备 原子级 平整 衬底 单晶硅 衬底表面 衬底清洗 单原子层 覆盖度 金属锶 氧化硅 单层 去除 薄膜
【主权项】:
1.一种原子级平整Sr/Si(100)‑2×3再构表面的制备方法,以单晶硅(100)片为衬底,其步骤为:1)衬底清洗:1‑1)将单晶硅(100)片切割成一定大小;1‑2)将切割好的单晶硅(100)片在丙酮中超声清洗;1‑3)将经丙酮超声清洗后的单晶硅(100)片使用纯水超声清洗;1‑4)将经纯水超声清洗后的单晶硅(100)片用高纯氮气吹干,然后放入真空腔内;2)去除衬底表面氧化硅,同时制备出Si(100)‑2×1再构表面:2‑1)将上述真空腔的腔体抽真空,使得本底真空达到1×10‑8Pa;2‑2)采用直流加热的方式将衬底温度加热到650℃并保持12小时;2‑3)采用直流加热的方式以一定的升温速率将衬底温度加热到1100℃并保持10~30s;2‑4)以一定的降温速率将衬底温度降低到室温;3)在衬底上形成的Si(100)‑2×1再构表面上制备亚单层金属锶薄膜:3‑1)将经步骤2)处理后的衬底移至制样真空腔内,将制样真空腔的腔体抽真空,使得本底真空达到1×10‑6Pa;3‑2)在1×10‑6Pa的真空下,对衬底进行加热,加热温度为500℃;3‑3)使用脉冲激光沉积技术或电子束蒸发技术在Si(100)‑2×1再构表面上沉积0.5nm厚度的金属锶薄膜;4)制备原子级平整Sr/Si(100)‑2×3再构表面:4‑1)将经步骤3)处理后的衬底移至分析真空腔,并使用离子泵和钛升华泵将分析真空腔的本底真空度抽到1×10‑8Pa;4‑2)将含有金属锶薄膜的衬底加热到750℃,并在750℃温度下维持5~10min,在这一恒温过程中金属锶薄膜中锶原子与Si(100)‑2×1再构表面硅二聚体发生电子转移反应,同时除了Si(100)‑2×1再构表面上原本存在的横向硅二聚体外,还会形成纵向排列的硅二聚体;4‑3)将衬底的温度降低到室温,同时确保分析真空腔的本底真空度维持在1×10‑8Pa,即可获得原子级平整的Sr/Si(100)‑2×3再构表面,Sr/Si(100)‑2×3再构表面上锶的覆盖度为1/6个单原子层。
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