[发明专利]用于高生产量制图的自适应射束电流在审

专利信息
申请号: 201610861092.1 申请日: 2016-06-30
公开(公告)号: CN106435530A 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: A·P·J·M·博特曼 申请(专利权)人: FEI公司
主分类号: C23C16/48 分类号: C23C16/48
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 申屠伟进;陈岚
地址: 暂无信息 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及用于高生产量制图的自适应射束电流。提供了一种用于规划用于材料沉积的射束路径的方法,其中,具有变化尺寸的特征的结构图案被分析以确定每一个特征的尺寸。遍历结构图案的射束路径被确定,并且针对在结构图案中的每一个点所需的射束电流被配置。配置针对每一个点所需的射束电流包括确定针对该点的可接受的射束剂量。相对小的特征对于高精度要求低的射束电流,并且相对大的特征能够使用允许更快沉积的更高射束电流来形成。在结构图案中的每一个特征在允许特征的精确沉积可接受的最高的射束电流下被沉积。
搜索关键词: 用于 生产量 制图 自适应 电流
【主权项】:
一种用于射束诱导材料沉积的方法,包括以下步骤:确定要沉积的二维特征的图;分析所述图以确定要沉积的二维特征的尺寸;从要沉积的二维特征的尺寸确定针对二维特征的每一个点的射束电流;确定用于沉积二维特征的射束扫描路径;以及以用于沉积材料的扫描图案扫描射束从而形成二维特征,不同的射束电流被用于扫描图案中的至少一些点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于FEI公司,未经FEI公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610861092.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top