[发明专利]一种对月壤结构探测仪数据去除背景的方法有效

专利信息
申请号: 201610862035.5 申请日: 2016-09-28
公开(公告)号: CN106646383B 公开(公告)日: 2019-09-06
发明(设计)人: 李玉喜;沈绍祥;周斌;方广有 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S7/02 分类号: G01S7/02;G01S13/89
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 乔东峰
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种对月壤结构探测仪数据去除背景的方法,该方法将月壤结构探测仪探测得到的实测数据和背景数据,经过时间校正、幅度校正等步骤,得到去除背景后的实测数据。因为月壤结构探测仪是在静止的状态下工作,工作方式有别于普通的商业探地雷达,所获取的原始数据也有别于商业探地雷达的数据。同时月壤结构探测仪会受到着陆器本体、周围环境和设备自身的温度等因素的影响,因此采用本发明对原始数据进行去除背景处理,提高原始数据的信噪比,以得到标准的实测数据,用于探测区域成像等科学研究。
搜索关键词: 一种 结构 探测仪 数据 去除 背景 方法
【主权项】:
1.一种对月壤结构探测仪数据去除背景的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:步骤1、分别对实测数据和背景数据进行插值;步骤2、对插值后的实测数据进行时间校正,时间校正的公式如下:τshift为每帧实测数据的时间校准量,Δt=1.83ps,为插值后的采样间隔,n为需要平移的点数,四舍五入取整;当该帧实测数据的时间校准量τshift>0时,将该帧实测数据向前平移n个点,在数据的末尾补充n个0;当该帧实测数据的时间校准量τshift<0时,将该帧实测数据向后平移n个点,在该帧实测数据的前端补充n个0;步骤3、对时间校正后的实测数据进行幅度校正:幅度校正的公式如下:fout(t)=a*fraw(t+τshift)fout(t)为完成幅度校正的实测数据,a为幅度校正的系数,fraw(t)为插值后的实测数据,fraw(t+τshift)为时间校正后的实测数据;步骤4、将插值后的背景数据和完成幅度校正的实测数据进行还原;步骤5、将完成幅度校正的实测数据减去所述插值后的背景数据。
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