[发明专利]多探头法测试系统及其校准方法和装置有效
| 申请号： | 201610862582.3 | 申请日： | 2016-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN106412953B | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 马玉娟;李雨翔;张志华 | 申请（专利权）人： | 北京中科国技信息系统有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/02 | 分类号： | H04W24/02 |
| 代理公司： | 11240 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 韩建伟;张永明<国际申请>=<国际公布> |
| 地址： | 100097北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多探头法测试系统及其校准方法和装置。其中，该校准方法包括：第一校准步骤，用于对多探头法测试系统进行第一校准，其中，第一校准针对多探头法测试系统中的有源部分和无源部分进行校准；第二校准步骤，用于对多探头法测试系统进行第二校准，其中，第二校准针对多探头法测试系统中的有源部分进行校准；在每次使用多探头法测试系统之前，进行第二校准步骤；并且，距离进行上一次第一校准步骤达到预定条件的情况下，再次进行第一校准步骤。本发明解决了相关技术对MIMO OTA测试系统进行校准的效率较低的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 探头 测试 系统 及其 校准 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种多探头法测试系统的校准方法，其特征在于，包括：/n第一校准步骤，用于对多探头法测试系统进行第一校准，其中，所述第一校准针对所述多探头法测试系统中的有源部分和无源部分进行校准；/n第二校准步骤，用于对所述多探头法测试系统进行第二校准，其中，所述第二校准针对所述多探头法测试系统中的有源部分进行校准；/n在每次使用所述多探头法测试系统之前，进行所述第二校准步骤；并且，距离进行上一次所述第一校准步骤达到预定条件的情况下，再次进行所述第一校准步骤；/n其中，还包括：/n对所述多探头法测试系统的各个通道进行所述第一校准，得到所述各个通道的路径损耗值；/n对所述多探头法测试系统的各个通道进行所述第二校准，得到所述各个通道的有源部分的路径损耗值，并根据所述各个通道的路径损耗值和所述有源部分的路径损耗值得到所述各个通道的无源损耗值；/n保存所述无源损耗值，并在之后再次进行的一次或多次所述第二校准步骤中使用得到所述各个通道的路径损耗值，其中，所述无源损耗值一直使用直到再次进行所述第一校准步骤。/n
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