[发明专利]一种软X射线源辐射强度标定系统和标定方法有效
| 申请号： | 201610862775.9 | 申请日： | 2016-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN106526649B | 公开（公告）日： | 2019-10-22 |
| 发明（设计）人： | 苏鲁宁;刘勋;李维;苏云;郭崇玲;阮宁娟 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | G01T1/16 | 分类号： | G01T1/16 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100076 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种软X射线源辐射强度标定系统和标定方法，包括辐射源真空腔、实验真空腔、X射线传输腔、X射线源、软X射线CCD探测器；本发明采用单光子计数技术，标定软X射线辐射强度，尤其是可以标定能量在2keV以下的X射线源的辐射强度，打破了单光子计数X射线CCD的能量限制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 辐射强度 标定 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种软X射线源辐射强度标定系统，其特征在于：包括辐射源真空腔、实验真空腔、X射线传输腔、X射线源、软X射线CCD探测器；所述辐射源真空腔内产生X射线，经过X射线传输腔内长距离传输后实现CCD单位像元、单位时间内接收到的X射线光子数远小于1，作为软X射线源辐射强度标定的X射线源和标定系统；其中，单位时间和单位面积内X射线源的辐射强度为：AL2/tst表示单位时间内，S表示软X射线CCD探测面积，A表示软X射线CCD探测面积S上获得信号的像元数。
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