[发明专利]检测单颗粒的方法和装置有效
申请号: | 201610865192.1 | 申请日: | 2016-09-29 |
公开(公告)号: | CN107884329B | 公开(公告)日: | 2020-03-10 |
发明(设计)人: | 毛兰群;于萍;李婷 | 申请(专利权)人: | 中国科学院化学研究所 |
主分类号: | G01N15/10 | 分类号: | G01N15/10;G01N15/06 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 李志东 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了检测单颗粒的方法和装置。该检测单颗粒的方法包括:(1)将隔离件的底端浸入含有所述单颗粒的电解质溶液,使所述电解质溶液通过所述隔离件底部的通孔进入所述隔离件的内部,并在所述隔离件内部和外部的所述电解质溶液之间施加电压;(2)记录流经所述通孔的电流随时间变化曲线,以便获得电流‑时间变化曲线;(3)基于所述电流‑时间变化曲线,确定所述单颗粒的粒径范围和浓度,其中,所述颗粒的粒径大于所述通孔的直径。通过该方法,可以快速有效的确定溶液中单个颗粒的粒径范围,有效对单颗粒进行筛选和分级,操作步骤简单方便,可以检测的颗粒的尺寸范围较广,可以有效检测低颗粒浓度的溶液,同时灵敏度和准确度较高。 | ||
搜索关键词: | 检测 颗粒 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种检测单颗粒的方法,其特征在于,包括:(1)将隔离件的底端浸入含有所述单颗粒的电解质溶液,使所述电解质溶液通过所述隔离件底部的通孔进入所述隔离件的内部,并在所述隔离件内部和外部的所述电解质溶液之间施加电压;(2)记录流经所述通孔的电流随时间变化曲线,以便获得电流‑时间变化曲线;(3)基于所述电流‑时间变化曲线,确定所述单颗粒的粒径范围和浓度,其中,所述颗粒的粒径大于所述通孔的直径。
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