[发明专利]一种测试材料涂覆涂层后激光吸收率的方法在审

专利信息
申请号: 201610865792.8 申请日: 2016-09-29
公开(公告)号: CN106353361A 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 杨立军;付守冲;陈亚利;张宏志;王扬 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 北京隆源天恒知识产权代理事务所(普通合伙)11473 代理人: 闫冬
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明公开一种测试材料涂覆涂层后激光吸收率的方法,第一步首先对待测试的材料用同一规格砂纸对材料的正面和背面进行均匀打磨,并保持打磨工艺的一致性;第二步利用所述非接触式测温装置对打磨后的材料正面和背面进行测温,并与所述有限元温度场分析结果进行对比,以验证所述有限元温度场分析中所述材料热物理参数的准确性;第三步对所述打磨后的材料同一位置利用非接触式测温装置和接触式测温元件同时测温,以校正所述打磨后材料表面发射率;第四步使用所述非接触式测温装置对所述打磨后材料激光加热面涂覆涂层部位的背面未涂覆涂层部位进行温度场测量,并与有限元温度场分析结果进行对比,得出所述涂覆涂层后材料的激光吸收率。
搜索关键词: 一种 测试 材料 涂层 激光 吸收率 方法
【主权项】:
一种测试材料涂覆涂层后激光吸收率的方法,其特征在于,将有限元温度场分析与实验测试相结合确定涂覆涂层后材料的激光吸收率,具体步骤为:第一步:首先对待测试的材料用同一规格砂纸对材料的正面和背面进行均匀打磨,并保持打磨工艺的一致性,从而保证处理过的材料表面发射率、激光吸收率的一致性;第二步:利用所述非接触式测温装置对打磨后的材料正面和背面进行测温,并与所述有限元温度场分析结果进行对比,以验证所述有限元温度场分析中所述材料热物理参数的准确性;第三步:对所述打磨后的材料未涂覆涂层部位的同一位置利用非接触式测温装置和接触式测温元件同时测温,以校正所述打磨后材料表面发射率;第四步:对所述打磨后的材料正面涂覆涂层,利用第三步校正过的所述打磨后材料表面发射率的数据对所述非接触式测温装置进行设置,然后使用所述非接触式测温装置对所述打磨后材料激光加热面涂覆涂层部位的背面未涂覆涂层部位进行温度场测量,并与有限元温度场分析结果进行对比分析,得出所述涂覆涂层后材料的激光吸收率。
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