[发明专利]一种基于ICCD成像的聚合物击穿发光光谱测量系统在审
申请号: | 201610865815.5 | 申请日: | 2016-09-29 |
公开(公告)号: | CN106442433A | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 王暄;李全勇 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨理工大学 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63;G01N21/67 |
代理公司: | 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙)23209 | 代理人: | 陈润明 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 一种基于ICCD成像的聚合物击穿发光光谱测量系统。包括同步触发电路及受同步触发电路控制的光学图像采集处理系统、动态压力测量系统和数据处理单元,光学图像采集处理系统包括以电弧发生器为中心的三路成像光路,三路成像光路同时接收外部发生器放电发出的光信号,每一路成像光路中的可调密度盘对接收的光信号进行动态衰减,将衰减后的信号经分光装置等性分为三路平行光束,三束不同波长的单色光和背景光并送至CCD的不同区域成像,从而获得由三路平行光束生成的一幅成像光路图像;本发明通过测量装置获取光信号能够绘制聚合物击穿瞬间的发光光谱,能够了解发光的来源从而分析聚合物的中载流子的变化规律,进一步了解击穿行为如何发生。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 iccd 成像 聚合物 击穿 发光 光谱 测量 系统 | ||
【主权项】:
一种基于ICCD成像的聚合物击穿发光光谱测量系统,包括同步触发电路、光学图像采集处理系统、动态压力测量系统、聚合物击穿系统和数据处理单元,同步触发电路控制外部光学图像采集处理系统、动态压力测量系统和数据处理单元同步工作,所述的光学图像采集处理系统包括以电弧发生器为中心的三路成像光路,每路成像光路包括可调密度盘、分光装置、滤光片和CCD传感器,光学图像采集处理系统中的三路成像光路同时接收外部发生器放电发出的光信号,每一路成像光路中的可调密度盘对接收的光信号进行动态衰减,将衰减后的信号经分光装置等性分为三路平行光束,再经过各自光路的滤光片后,得到三束不同波长的单色光和背景光并送至CCD的不同区域成像,从而获得由三路平行光束生成的一幅成像光路图像;光学图像采集处理系统生成三幅成像光路图像送至数据处理单元;动态压力测量模块测量聚合物击穿系统内部的动态压力,并将压力测量结果送至数据处理单元;数据处理单元根据成像光路图像和压力测量结果,计算获得聚合物内部的陷阱能级信息。
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