[发明专利]一种天线测试系统有效

专利信息
申请号: 201610866506.X 申请日: 2016-09-29
公开(公告)号: CN106199221B 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 顾翔 申请(专利权)人: 北京润科通用技术有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 100192 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明技术方案公开了一种天线测试系统,包括:微波暗箱;固定支架,安装有探针天线;可调节支架,安装有待测天线;回波模拟器,回波模拟器与探针天线以及待测天线通信连接;控制主机,控制主机与调节支架以及回波模拟器通信连接;其中,当对待测天线进行性能测试时,可调节支架用于根据位置调节指令调节待测天线相对于探针天线的位置,使得待测天线的位置满足测试要求;回波模拟器用于根据预设的测试指令激励待测天线发射测试信号,根据探针天线接收的测试信号生成待处理信号,将待处理信号发送给控制主机;控制主机用于生成位置调节指令以及测试指令,还用于对待处理信号进行信号处理,并显示信号处理结果。该天线测试系统结构简单,成本低。
搜索关键词: 一种 天线 测试 系统
【主权项】:
1.一种天线测试系统,其特征在于,包括:微波暗箱;设置在所述微波暗箱内的固定支架,所述固定支架安装有探针天线;设置在所述微波暗箱内的可调节支架,所述可调节支架安装有待测天线;设置在所述微波暗箱外的回波模拟器,所述回波模拟器与所述探针天线以及所述待测天线通信连接;设置在所述微波暗箱外的控制主机,所述控制主机与所述可调节支架以及所述回波模拟器通信连接;其中,当对所述待测天线进行性能测试时,所述可调节支架用于根据位置调节指令调节所述待测天线相对于所述探针天线的位置,使得所述待测天线的位置满足测试要求;所述回波模拟器用于根据预设的测试指令激励所述待测天线发射测试信号,根据所述探针天线接收的所述测试信号生成待处理信号,将所述待处理信号发送给所述控制主机;所述控制主机用于生成所述位置调节指令以及所述测试指令,还用于对所述待处理信号进行信号处理,并显示信号处理结果;所述回波模拟器还用于对射频传感器系统进行系统级功能和性能测试。
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