[发明专利]样品位置对准方法和带电粒子束装置有效
| 申请号： | 201610866961.X | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN106941065B | 公开（公告）日： | 2020-12-22 |
| 发明（设计）人： | 清原正宽;竹野健悟;上本敦;梅村馨 | 申请（专利权）人： | 日本株式会社日立高新技术科学 |
| 主分类号： | H01J37/20 | 分类号： | H01J37/20;H01J37/22;H01J37/28 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 闫小龙;陈岚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及样品位置对准方法和带电粒子束装置。在样品位置对准方法中，能够容易且迅速地将样品的观察对象部位位置对准于利用第一带电粒子束的观察视场内。是一种样品位置对准方法，其中，将配置在样品工作台（15）的样品（14）的观察对象部位位置对准于观察视场内，并且，包含：将包含样品（14）的图像显示在显示画面中；基于显示画面的图像来指定注目点；以使注目点位于当通过光学轴（Ob）上的轴上目标点时与光学轴（Ob）正交的轴上点探索面的方式对样品工作台的光学轴（Ob）方向的位置进行对准；进行注目点与轴上目标点的位置偏离的感测和轴上点探索面内移动，将注目点移动到轴上目标点；以及在注目点移动到轴上目标点之后，将注目点移动到带电粒子束光学系统的焦点深度内。 | ||
| 搜索关键词： | 样品 位置 对准 方法 带电 粒子束 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本株式会社日立高新技术科学，未经日本株式会社日立高新技术科学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610866961.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
