[发明专利]用于测试微控制器的存储单元的方法

摘要

本发明涉及用于测试微控制器的存储单元的方法。本发明涉及一种用于测试微控制器的存储单元的方法，其中，存储单元具有一个或多个内存条、附加内存条和用于执行对所述一个或多个内存条之一的测试的测试单元，其中存储单元拥有至少两个可同时使用的通信信道，用于自由选择地访问一个或多个内存条和附加内存条中的各一个，其中一个或多个内存条中的要测试的内存条的存储内容被写入到附加内存条中，其中测试单元的访问请求被传递给要测试的内存条，并且其中对要测试的内存条的测试由测试单元来执行。

主权项

用于测试微控制器（100）的存储单元（101）的方法，其中，所述存储单元（101）具有一个或多个内存条（130、131、132）、附加内存条（140）和用于执行对所述一个或多个内存条（130、131、132）之一的测试的测试单元（120），其中，所述存储单元（101）拥有至少两个可同时使用的通信信道（131a、132a），用于自由选择地访问所述一个或多个内存条（130、131、132）和附加内存条（140）中的各一个，‑ 其中，所述一个或多个内存条（130、131、132）中的要测试的内存条（131）的存储内容被写入到附加内存条（140）中（210），‑ 其中，所述测试单元（120）的访问请求被传递给所述要测试的内存条（131），并且其中对所述要测试的内存条（131）的测试由测试单元（120）来执行（220），‑ 其中，在执行所述测试期间：○ 如果对要测试的内存条（131）的存储内容的访问请求被记录，那么所述访问请求被转交给附加内存条（140）（231）并且在所述附加内存条（140）中的存储内容被访问，○ 如果对所述一个或多个内存条（130、131、132）中的其余的内存条之一（132）的存储内容的访问请求被记录，那么所述访问请求被传递给相应的内存条（132）（231）并且所述其余的内存条（130、131、132）中的相应的内存条（132）的存储内容被访问。