[发明专利]相变温度测试仪及其测试方法在审
| 申请号： | 201610871613.1 | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN107884408A | 公开（公告）日： | 2018-04-06 |
| 发明（设计）人： | 邱鹏冲;艾建勇 | 申请（专利权）人： | 苏州迈迪威检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京金思港知识产权代理有限公司11349 | 代理人： | 邵毓琴,何洋 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州市苏州工*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种相变温度测试仪及其测试方法。其中，相变温度测试仪包括用于容纳被测样品的容器；加热装置，对所述容器内的被测样品进行加热；图像获取装置，用于获取被测样品的图像；温度传感器，与所述容器连接，用于检测所述被测样品的温度变化；处理器，与所述图像获取装置和温度传感器电子连接，用于执行下述处理根据获取的图像检测被测样品由于加热导致的位移变化，并根据检测到的位移变化和温度变化生成被测样品的温度位移曲线。本发明所提供的相变温度测试仪及其测试方法实现了对镍钛合金相变温度的非接触式测量，能对任何规格和形状类型的镍钛合金支架进行精准的测试，并且适用性广。 | ||
| 搜索关键词： | 相变 温度 测试仪 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
相变温度测试仪，其特征在于，包括：用于容纳被测样品的容器；加热装置，对所述容器内的被测样品进行加热；图像获取装置，用于获取被测样品的图像；温度传感器，与所述容器连接，用于检测所述被测样品的温度变化；处理器，与所述图像获取装置和温度传感器电子连接，用于执行下述处理：根据获取的图像检测被测样品由于加热导致的位移变化，并根据检测到的位移变化和温度变化生成被测样品的温度位移曲线。
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