[发明专利]基于加权测量矩阵的光谱重构方法有效

专利信息
申请号: 201610871825.X 申请日: 2016-09-30
公开(公告)号: CN106644071B 公开(公告)日: 2018-01-16
发明(设计)人: 李贝;陈智闻;耿润;张雷洪;梁东;康祎;潘子兰;聂鹏;占文杰 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司31204 代理人: 郁旦蓉
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种基于加权测量矩阵的光谱重构方法,包括以下步骤步骤一,获取训练样本和检验样本的光谱值;步骤二,获取训练样本和检验样本的相机响应值;步骤三,用伪逆法、维纳估计法、主成分分析法分别重构检验样本的光谱值,并获得相应的测量矩阵;步骤四,分别计算伪逆法、维纳估计法以及主成分分析法重构后的光谱值与检验样本的光谱值之间的色差;步骤五,将伪逆法、维纳估计法以及主成分分析法重构后的光谱值分别加权重并相加得到新光谱值;步骤六,计算新的光谱值与检验样本的光谱值的色差;步骤七,将步骤六色差最小时对应的权重分别加到对应的测量矩阵中并相加得到测量矩阵M;步骤八,用测量矩阵M进行光谱值重构。
搜索关键词: 基于 加权 测量 矩阵 光谱 方法
【主权项】:
一种基于加权测量矩阵的光谱重构方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,获取训练样本和检验样本的光谱值;步骤二,获取所述训练样本和所述检验样本的相机响应值;步骤三,用伪逆法重构所述检验样本的光谱值得到重构后的光谱值并获得所述伪逆法的测量矩阵M1,用维纳估计法重构所述检验样本的光谱值得到重构后的光谱值并获得所述维纳估计法的测量矩阵M2,用主成分分析法重构所述检验样本的光谱值得到重构后的光谱值并获得所述主成分分析法的测量矩阵M3;步骤四,分别计算所述伪逆法重构后的所述光谱值所述维纳估计法重构后的所述光谱值以及所述主成分分析法重构后的所述光谱值与所述检验样本的光谱值之间的CIE1976色差ΔEab1;步骤五,将所述伪逆法重构后的光谱值加权重w1,所述维纳估计法重构后的光谱值加权重w2,所述主成分分析法重构后的光谱值加权重w3,分别得到三个加权后的光谱值,将该三个加权后的光谱值相加求和得到新的光谱值步骤六,计算所述新的光谱值与所述检验样本的光谱值之间的CIE1976色差ΔEab2;步骤七,将所述CIE1976色差ΔEab2最小时对应的权重w1、w2、w3分别加到所述伪逆法、所述维纳估计法、所述主成分分析法所对应的测量矩阵M1、M2、M3中,得到三个对应的值,所述三个对应的值的和即为测量矩阵M;步骤八,用所述测量矩阵M进行光谱值重构。
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