[发明专利]偏振片的检查方法和偏振片的制造方法有效

专利信息
申请号: 201610873657.8 申请日: 2016-09-30
公开(公告)号: CN106990470B 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 木村真规子;八重樫将宽;杉脇正晃;古泽修也 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: G02B5/30 分类号: G02B5/30
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种偏振片的检查方法和偏振片的制造方法。该偏振片的检查方法在制造能够实现电子器件的多功能化以及高功能化、且品质没有偏差的偏振片之际精度良好地检查该偏振片。本发明的检查方法包括向具有非偏振部(2)的偏振片(1)的包含非偏振部(2)在内的范围照射光、并对偏振片(1)的透射光像进行拍摄的工序。在此,透射光像中的非偏振部(2)与其他部位的对比度比(非偏振部/其他部位)是1.5以上。
搜索关键词: 偏振 检查 方法 制造
【主权项】:
一种偏振片的检查方法,其包括向具有非偏振部的偏振片的包含非偏振部在内的范围照射光、并对该偏振片的透射光像进行拍摄的工序,所述透射光像中的非偏振部与其他部位的对比度比是1.5以上。
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