[发明专利]一种交流开关及其制造方法在审
申请号: | 201610874341.0 | 申请日: | 2016-09-30 |
公开(公告)号: | CN106340539A | 公开(公告)日: | 2017-01-18 |
发明(设计)人: | 刘宗贺;邹有彪;王泗禹;徐玉豹 | 申请(专利权)人: | 安徽富芯微电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/74 | 分类号: | H01L29/74;H01L29/747;H01L21/332 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙)11390 | 代理人: | 胡剑辉 |
地址: | 230031 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开一种交流开关,包括N型半导体基体、P型扩散区、P+型扩散隔离区、N+扩散区、凹槽、钝化区、电极T1、门极G、电极T2,所述交流开关是一种采用单一负向门极触发的双向可控硅交流开关,门极区只有N+扩散层结构,只有所述G电极上加相对于所述T1电极为负的电压时可控硅才能触发导通。本发明的交流开关是一种仅工作在Ⅱ、Ⅲ象限触发的双向可控硅,具有灵敏度高、抗干扰能力强的特点,同时该双向可控硅管脚排布与现有交流开关应用线路兼容,具有通用、节约成本的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 交流 开关 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种交流开关,包括N型半导体基体、P型扩散区、P+型扩散隔离区、P+型扩散区、N+扩散区、凹槽、钝化区、电极T1、门极G、电极T2,其特征在于:该交流开关是采用单一负向门极触发的双向可控硅交流开关,门极区只有N+扩散层结构,只有所述G电极上加相对于所述T1电极为负的电压时可控硅能触发导通,只能工作在Ⅱ或Ⅲ象限。
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