[发明专利]一种确定理想单举计数率的方法和装置有效
| 申请号： | 201610875842.0 | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN106526655B | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 朱程;李楠 | 申请（专利权）人： | 赛诺联合医疗科技（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 江崇玉 |
| 地址： | 100013 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种确定理想单举计数率的方法和装置，属于计算机技术领域。所述方法包括：确定放射性活度的棒源在平行于正电子发射断层显像PET设备的轴向，且距所述PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动形成的曲面中的每个单位区域，与所述PET设备中的每个晶体的距离，以及所述每个单位区域与所述每个晶体的角度，根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离、所述每个单位区域与所述每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率。采用本发明，可以避免技术人员长时间靠近放射性溶液，降低技术人员受辐射的风险，避免安全事故的发生。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 确定 理想 计数 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种确定理想单举计数率的方法，其特征在于，所述方法包括：确定放射性活度的棒源在平行于正电子发射断层显像PET设备的轴向，且距所述PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动形成的曲面中的每个单位区域，与所述PET设备中的每个晶体的距离，以及所述每个单位区域与所述每个晶体的角度，其中，所述每个单位区域与所述每个晶体的角度为所述每个单位区域与所述每个晶体所连直线，与所述直线对应的晶体的所在横断面的角度；根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离、所述每个单位区域与所述每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率；所述根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离、所述每个单位区域与所述每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率，包括：根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离，以及所述每个单位区域与所述每个晶体的角度，确定所述PET设备当前的第一辐照通量；确定预设的基准辐照通量与所述第一辐照通量的比值，将预设的每个晶体的基准单举计数率分别除以所述比值，得到所述每个晶体当前的理想单举计数率。
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