[发明专利]一种芯片短路失效检测系统及方法

摘要

本发明公开了一种芯片短路失效检测系统及方法，其中该系统构包括有指令处理模块、数据存储模块、固件更新模块、电源电压控制模块、失效检测模块及过冲电压控制模块，所述指令处理模块、数据存储模块、固件更新模块、电源电压控制模块、失效检测模块及过冲电压控制模块均设置于嵌入式微处理器中。本发明解决了失效分析对测试机台的依赖，方便用户使用，携带方便，引入自动化测量及修复方法，实现对芯片自动化控制，具备多种短路失效分析模式和自适应电压对冲技术等自动化检测和修复机制，解决人员重复劳动和效率低下问题，整个过程减少人参与，大大提高工作效率。

主权项

1.一种芯片短路失效检测系统，其特征在于该系统包括有指令处理模块、数据存储模块、固件更新模块、电源电压控制模块、失效检测模块及过冲电压控制模块，所述指令处理模块、数据存储模块、固件更新模块、电源电压控制模块、失效检测模块及过冲电压控制模块均设置于嵌入式微处理器中；所述指令处理模块，接收控制指令和数据，检测及修复装置根据相关命令调用相关的功能模块进行处理；数据存储模块用于存放文件索引表、芯片失效数据信息文件、芯片型号、标识信息及芯片设计指标等相关信息；数据存储模块根据检测及修复系统接收到数据存储命令进行存储模块初始化，获取数据存储请求信息，并将所请求的数据信息存储到数据存储模块；固件更新模块，主要实现能在线嵌入式微处理器芯片进行固件程序调试、更新或下载，固件更新模块根据用户的不同需求可进行全更新和部分更新等功能；电源电压控制模块，电源电压控制模块生成嵌入式微处理器通过SPI接口向外部DAC写入所需的电源数据，根据芯片配置文件自适应调整输出电压，通过外部DAC转换出来的信号量，经过运算放大器，为不同被测芯片提供供电电压输出给被测芯片，经过稳压器稳定输出电压电流，然后经过通道切换对芯片进行上掉电操作，使得电源模块输出满足芯片所需的供电电压；失效检测模块，完成嵌入式微处理器和被测芯片之间是否放置正确和接触是否良好的电气链接特性检测，以判断其失效的类型，进而进行修复；过冲电压控制模块，根据失效检测结果的种类进行针对性的修复，控制电子开关先将地接到被测芯片的地上，再将DAC或者仪器仪表输出的电源在短路的绑定线管脚上做短暂的接触放电，调用失效检测模块进行测量；数据处理模块，判断发送的数据帧是否正确、判断USB连接错误处理、外置高精度ADC/DAC连接是否正常、固件更新事件的错误处理，各功能模块在程序运行过程的错误处理机制、数据的效验机制，数据出错处理及数据重传，超时处理。