[发明专利]基于SIFT特征点的双标签相对位置信息构建方法

摘要

本发明公开了一种基于SIFT特征点的双标签相对位置信息构建方法，具体为对于商品双标签拍摄形成的图片，根据检测的sift特征点，构建图片中双标签的相对位置关系，把相对位置关系作为图片的标志性特征，用于商品的防伪。本发明方法通过引入SIFT特征点丰富了图片的描述信息，计算量小，鲁棒性好。

主权项

一种基于SIFT特征点的双标签相对位置信息构建方法，所述双标签包括上层标签和下层标签；所述上层标签整体边界处在下层标签的边界范围内；所述下层标签的纹理信息为包括丰富的灰度梯度特征信息的用于SIFT特征提取的纹理信息；包括以下步骤：1)选择一个带有双层标签的真实商品，对其双标签拍摄n副不同角度的图片记为Pi,i＝1,…,n；选择其中一副作为模板图片，记为P1，其中的上下层标签的相对位移作为参照物；选择另一副作为待测图片，记为P2；对图片P1，P2中上下层标签进行SIFT特征点检测，得到P1，P2上层标签的SIFT特征点集F1，F2；P1，P2下层标签的SIFT特征点集f1，f2；分别获取上下层标签SIFT特征点的物理坐标，存储至少70％的SIFT特征点的坐标信息；2)对P1，P2下层标签进行SIFT特征配准，得到P1和P2中相对应的SIFT配准点集f1’和集f2’，存储f1’和f2’中所有SIFT特征点的位置坐标信息；3)利用f1’和f2’中所有SIFT特征点的位置坐标构造P2到P1的仿射变换矩阵M，将P1和P2的下层标签归一化到同一个物理位置,以削弱不同拍摄角度和商品不同摆放位置带来的影响；4)对P1、P2上层标签进行SIFT特征配准，得到P1和P2中相对应的SIFT配准点集F1’和F2’，存储F1’和F2’中所有SIFT特征点的位置坐标信息；对F2’中SIFT特征点利用仿射矩阵计算仿射变换后的SIFT特征点集F2”；5)计算F2”与F1’中对应SIFT特征点之间的距离d，此距离即反映了P2中上层标签相对下层标签的相对位置信息。