[发明专利]一种高反射物体表面三维测量方法和系统有效
| 申请号： | 201610889307.0 | 申请日： | 2016-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN106546193B | 公开（公告）日： | 2020-01-17 |
| 发明（设计）人： | 李晨;张旭;屠大维 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 31205 上海上大专利事务所(普通合伙) | 代理人： | 陆聪明 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高反射物体表面三维测量方法，包括下列步骤：1）借助于双投影仪和相机获取物点坐标和法线信息：使用双投影仪分时向白色平板投射编码相移条纹，由相机获取经被测物体表面反射的白色平板上的相移条纹；借助于白色平板位置改变，获取入射光线所在的入射光平面；使用双投影仪获得的两个入射光平面，并由入射光平面求交获得入射光线信息；使用反射光线和入射光平面求交或反射光线和入射光线求交计算物点坐标信息；使用反射光线和入射光线获取物点法线信息；2）采用径向基插值法或梯度积分法对获取的物点坐标和法线信息进行插值或梯度积分，获取物点的精确三维信息。本发明测量速度快，非接触，对高反射物体表面无损伤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反射 物体 表面 三维 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种高反射物体表面三维测量方法，其特征在于，包括下列步骤：/n1)借助于双投影仪和相机获取物点坐标和法线信息：使用双投影仪分时向白色平板投射编码相移条纹，由相机获取经被测物体表面反射的白色平板上的相移条纹；借助于白色平板位置改变，获取入射光线所在的入射光平面；使用双投影仪获得的两个入射光平面，并由入射光平面求交获得入射光线信息；使用反射光线和入射光平面求交或反射光线和入射光线求交计算物点坐标信息；使用反射光线和入射光线获取物点法线信息；/n2)采用径向基插值法或梯度积分法，对获取的物点坐标和法线信息进行插值或梯度积分，获取物点的精确三维信息；/n采用入射光平面方法，通过反射光线与入射光平面求交，获得物点坐标；采用法线获取方法，由两个入射光平面求交，获得入射光线信息，由入射光线和反射光线确定物点的法线信息，进而由径向基函数插值法或梯度积分法获得更精确的物点坐标；采用入射光平面方法和法线获取方法相结合，进行高反射物体表面各点的空间坐标位置测量。/n
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