[发明专利]半导体结构在审

专利信息
申请号: 201610891691.8 申请日: 2016-11-14
公开(公告)号: CN107644863A 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 赖昱嘉;余振华;黄章斌;刘重希;杜贤明;郭鸿毅;蔡豪益;梁世纬;刘人瑄 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司32243 代理人: 顾伯兴
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种半导体结构包括集成电路组件、导电接垫、密封环结构、导电通孔、环型阻障及模塑材料。导电接垫配置于且电性连接于集成电路组件。密封环结构配置于集成电路组件且环绕导电接垫。导电通孔配置于且电性连接于导电接垫。环型阻障配置于密封环结构上。密封环结构环绕导电通孔。模塑材料覆盖集成电路组件的多个侧面。本发明提供的半导体结构具有较佳的结构强度与可靠性。
搜索关键词: 半导体 结构
【主权项】:
一种半导体结构,其特征在于,包括:集成电路组件;导电接垫,配置于且电性连接于所述集成电路组件;密封环结构,配置于所述集成电路组件且环绕所述导电接垫;导电通孔,配置于且电性连接于所述导电接垫;环型阻障,配置于所述密封环结构上,其中所述环型阻障环绕所述导电通孔;模塑材料,覆盖所述集成电路组件的多个侧面。
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