[发明专利]一种微桥结构锰钴镍氧薄膜红外探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201610893671.4 申请日: 2016-10-13
公开(公告)号: CN106395728B 公开(公告)日: 2017-08-25
发明(设计)人: 黄志明;张飞;周炜;吴敬;黄敬国;高艳卿;曲越;孙雷;江林;姚娘娟;褚君浩 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: B81B1/00 分类号: B81B1/00;B81C1/00;G01J5/20
代理公司: 上海新天专利代理有限公司31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种微桥结构锰钴镍氧薄膜红外探测器件及其制备方法。探测器的微桥结构为一平台,将锰钴镍氧薄膜材料沉积在该平台上制作红外探测器,其微桥结构的牺牲层采取直接加热的方式去除,而无需在锰钴镍氧探测元上再沉积一层钝化层,且牺牲层可以在内部形成拱形的支撑结构,也简化了制作流程,节约了成本,提高了器件之作的成功率,同时由于其平台结构强度较高,在红外器件的诸如涂黑漆、封装等步骤中不易受损。
搜索关键词: 一种 结构 锰钴镍氧 薄膜 红外探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
一种微桥结构锰钴镍氧薄膜红外探测器,包括锰钴镍氧薄膜(1),二氧化硅层(2),氮化硅层(3),聚酰亚胺牺牲层(4)和低阻硅衬底(5);其特征在于:所述的红外探测器自低阻硅衬底(5)之上依次为聚酰亚胺牺牲层(4)、氮化硅层(3)、二氧化硅层(2)和锰钴镍氧薄膜(1),在锰钴镍氧薄膜(1)上有铬和金复合金属电极(6);所述的聚酰亚胺牺牲层(4)是呈拱形的牺牲层,拱形高度为1‑3μm,牺牲层厚度为1‑3μm,牺牲层与二氧化硅平直接触;所述的氮化硅层(3)的厚度50‑500nm;所述的二氧化硅层(2)的厚度50‑500nm;所述的锰钴镍氧薄膜(1)的厚度0.1‑2μm。
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