[发明专利]一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置和方法在审
| 申请号： | 201610895419.7 | 申请日： | 2016-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN106441808A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 张长兴;谢锋;刘成玉;邵红兰;刘智慧;杨贵 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司31213 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置和方法，本发明装置包括黑体控制器、标准黑体、热红外高光谱成像仪和计算机模块，该装置通过步骤(1)将热红外高光谱成像仪对准标准黑体并充满视场，通过黑体控制器将标准黑体温度设置为N个不同的温度，待温度稳定后发射的辐射光被热红外高光谱成像仪接收，计算机模块控制热红外高光谱成像仪采集N组数据；(2)将N组数据按照温升进行波段叠加，生成温升黑体热红外高光谱数据；(3)采集非盲元温升光谱，通过光谱匹配途径进行盲元检测，标记盲元生成盲元检测结果。本发明从光谱维角度考虑实现热红外高光谱成像仪的盲元高精度检测，对热红外高光谱成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 红外 光谱 成像 仪盲元 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置，装置包括黑体控制器(1)、标准黑体(2)、热红外高光谱成像仪(3)和计算机模块(4)，其特征在于，黑体控制器(1)与标准黑体(2)连接，计算机模块(4)与热红外高光谱成像仪(3)连接，热红外高光谱成像仪视场对准标准黑体；黑体控制器(1)设定标准黑体温度，标准黑体(2)发出热红外辐射，热红外高光谱成像仪(3)接收热红外辐射，计算机模块(4)控制成像仪进行数据采集，获得8‑12.5μm热红外各个波段的热红外辐射数据，改变标准黑体(2)的温度，如此往复，获取不同温度下的8‑12.5μm热红外辐射数据，基于该装置从光谱维角度实现热红外高光谱成像仪盲元检测数据的采集。
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