[发明专利]一种薄涂/镀层厚度的检测方法在审
申请号: | 201610895532.5 | 申请日: | 2016-10-14 |
公开(公告)号: | CN106441123A | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 姜玉领;邹悟会;郭进京;王勇 | 申请(专利权)人: | 中原内配集团股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 郑州联科专利事务所(普通合伙)41104 | 代理人: | 时立新;杨海霞 |
地址: | 454750 河南省焦*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明涉及一种薄涂/镀层厚度的检测方法,具体为:待检测样品制备成方形样块;在方形样块涂/镀层所在的表面包上一层锡纸,涂/镀层所在的表面与锡纸完全贴合且不留缝隙;将所得方形样块的待检测面朝下放入镶嵌机,倒入镶嵌料进行镶嵌;将镶嵌好的样品的待检测面分别在280#、400#、600#、800#、1200#砂纸上以150-250 r/min的转速进行磨制;然后在抛光机上以450-550 r/min的转速进行抛光,直至抛光成光洁的镜面;在金相显微镜100倍下连续观察8-12个视场,并分别测量每个视场的涂/镀层厚度,取其平均值作为最终的涂/镀层厚度结果。本方法更好地保护了涂/镀层,保证了结果的准确性,且操作简单,便于推广使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 镀层 厚度 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种薄涂/镀层厚度的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:①在不破坏涂/镀层厚度的情况下,用线切割的方法将待检测样品制备成方形样块;②在方形样块涂/镀层所在的表面包上一层锡纸,涂/镀层所在的表面与锡纸完全贴合且不留缝隙;③将步骤②所得方形样块的待检测面朝下放入镶嵌机,倒入镶嵌料进行镶嵌;④将镶嵌好的样品的待检测面分别在280#、400#、600#、800#、1200#砂纸上以150-250 r/min的转速进行磨制;⑤磨制结束后,在抛光机上以450-550 r/min的转速进行抛光,直至抛光成光洁的镜面;⑥在金相显微镜100倍下连续观察8-12个视场,并分别测量每个视场的涂/镀层厚度,取其平均值作为最终的涂/镀层厚度结果。
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