[发明专利]用于探测至少一个发光二极管的缺陷的诊断装置和方法有效
| 申请号： | 201610898058.1 | 申请日： | 2016-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN106993351B | 公开（公告）日： | 2019-07-16 |
| 发明（设计）人： | W.克尔纳;M.奥斯迪厄;P.布赖卡 | 申请（专利权）人： | 大陆汽车有限公司 |
| 主分类号： | H05B33/08 | 分类号： | H05B33/08;B60Q11/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周志明;安文森 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于探测多个发光二极管（6）中的至少一个发光二极管的缺陷的诊断装置（8），所述多个发光二极管连接成一个发光二极管列（5），该发光二极管列把第一供电接头（4）与第二供电接头（4）连接起来。要以低的布线代价探测该缺陷。本发明规定，给每个发光二极管（6）都并联一个电阻元件（10），测量机构（11）被设计用来在无发光二极管（6）发光时所在的发光暂停中在两个供电接头（4）之间产生诊断电流（ID），通过该诊断电流在每个电阻元件（10）上都产生比正向偏压（UF）小的电压，并联的相应发光二极管（6）从该正向偏压起发光，并且测量机构被设计用来提供在供电接头（4）之间下降的诊断电压（U）的电压值（19）。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 探测 发光二极管 中的 至少 一个 缺陷 诊断 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于探测多个发光二极管（6）中的至少一个发光二极管的缺陷的诊断装置（8），所述多个发光二极管连接成一个发光二极管列（5），该发光二极管列把第一供电接头（4）与第二供电接头（4）连接起来，其特征在于，给每个发光二极管（6）都并联一个电阻元件（10），测量机构（11）被设计用来在无发光二极管（6）发光时所在的发光暂停中在两个供电接头（4）之间产生诊断电流（ID），通过该诊断电流在每个电阻元件（10）上都产生比正向偏压（UF）小的电压，并联的相应发光二极管（6）从该正向偏压起发光，并且测量机构被设计用来提供在供电接头（4）之间下降的诊断电压（U）的电压值（19），分析机构（16）被设计用来根据诊断电流（ID）的电流强度值（20）和诊断电压（U）的电压值（19），求取各电阻元件（10）和各发光二极管（6）在供电接头（4）之间起作用的电阻的总电阻值，并根据该总电阻值产生故障信号（17、18），其中，在分析机构（16）中规定了多个无交叠的值间隔，分析机构（16）被设计用来根据总电阻值处于哪个值间隔来通过故障信号（17、18）通报有缺陷的发光二极管（6）的数量。
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