[发明专利]一种运行条件相依的微电网可靠性评估方法

摘要

本发明提出了一种运行条件相依的微电网可靠性评估方法，属于微电网技术领域。该评估方法包括以下步骤：(1)处理原始数据，得到由至少一个数据变量表示的场景，确定各场景下微电源的出力值；(2)计算微电网的功率差值；确定储能装置的充放电功率；(3)计算各场景下微电网内的电压和电流分布；(4)基于此，根据微电网中电力电子器件故障模型、电力变换电路拓扑结构、保护装置动作概率模型，计算各类故障条件相依的发生概率；(5)枚举各类故障，根据经济性最优切负荷策略，评估故障对可靠性指标造成的影响；(6)对所述步骤(5)所得的结果进行统计分析，获得微电网年度可靠性指标。本发明能够更准确地评估微电网运行的可靠性。

主权项

1.一种运行条件相依的微电网可靠性评估方法，包括以下步骤：(1)处理原始数据，得到由至少一个数据变量表示的场景，确定各场景下微电源的出力值；(2)求各场景下微电源的出力值与负荷需求之差，得到微电网的功率差值；再根据储能装置控制策略，确定储能装置的充放电功率；(3)对各场景下的微电网进行潮流计算，得到各场景下微电网内的电压和电流分布；(4)基于步骤(3)中潮流计算的结果，根据微电网中电力电子器件故障模型、电力变换电路拓扑结构、保护装置动作概率模型，计算各类故障条件相依的发生概率；(5)枚举各类故障，根据经济性最优切负荷策略，评估故障对可靠性指标造成的影响；(6)对所述步骤(5)所得的结果进行统计分析，获得微电网年度可靠性指标；所述电力电子器件故障模型如下：λI＝xλDiode+yλIGBT其中：λi表示单个电力电子器件的故障率；λb、Rja分别表示电力电子器件的基础故障率与结壳热阻抗；πT(i)表示场景i中影响器件故障率的温度因子；c为其他不受场景变化影响的故障率影响因子；Tj(i)、TC(i)分别表示场景i下器件的结温和环境温度；Ploss.i为场景i下器件的功率损耗；λI、λDiode、λIGBT分别代表整个电力变换电路、电路中单个二极管和IGBT器件的故障概率；x、y分别为电路中二极管与IGBT的个数。