[发明专利]用于测试线性热传感器的设备和方法有效
申请号: | 201610898940.6 | 申请日: | 2016-10-14 |
公开(公告)号: | CN107036735B | 公开(公告)日: | 2019-12-31 |
发明(设计)人: | A.S.罗杰斯 | 申请(专利权)人: | 基德科技公司 |
主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00 |
代理公司: | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 叶晓勇;付曼 |
地址: | 美国北卡*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种线性热传感器测试系统具有信号发生器和反射分析器。所述信号发生器产生各自具有不同频率的一系列衰减正弦脉冲信号,并且将所述衰减正弦脉冲信号传输到所述线性热传感器的第一端部。所述线性热传感器在所述线热感测阵列中的多个电中断处产生反射信号,所述反射信号对应于所述衰减正弦脉冲信号系列中的每一个。所述反射分析器接收来自所述线性热传感器的所述第一端部的反射信号。所述反射信号具有所述多个电中断中的每一个的电性质以及在所述线性热传感器内的位置的标记。所述反射分析器基于所述接收的反射信号的所述标记来计算所述电性质以及在所述线性热传感器内的所述位置。 | ||
搜索关键词: | 用于 测试 线性 传感器 设备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种线性热传感器测试系统,包括:/n信号发生器,所述信号发生器被配置来产生各自具有不同频率的一系列衰减正弦脉冲信号,并且将所述衰减正弦脉冲信号传输到线性热传感器的第一端部,其中所述线性热传感器被配置来在所述线性热传感器中的一个或多个电中断处产生对应于所述一系列衰减正弦脉冲信号中的每一个衰减正弦脉冲信号的反射信号;/n反射分析器,所述反射分析器被配置来接收来自所述线性热传感器的所述第一端部的反射信号,所述反射信号具有所述线性热传感器中的所述一个或多个电中断的位置标记以及电性质标记,其中所述反射分析器还被配置来基于接收的反射信号的所述标记计算所述线性热传感器中的所述一个或多个不连续性的位置和电性质。/n
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