[发明专利]制作半导体装置的方法在审
申请号: | 201610900567.3 | 申请日: | 2016-10-17 |
公开(公告)号: | CN106653692A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 宋家玮;曹志彬;陈豪育;蔡振华 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/8234 | 分类号: | H01L21/8234 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明揭露一种制作半导体装置的方法。于制作半导体装置的方法中,掺杂层是形成于基材中。形成接触掺杂层的阻绝层。半导体层是形成于基材和阻绝层上。通过图案化半导体层、阻绝层和掺杂层,来形成鳍片式结构,而使鳍片式结构包含具有半导体层的通道区域和具有掺杂层的井区域。形成隔离绝缘层,而使鳍片式结构的第一部分从隔离绝缘层突伸出,且鳍片式结构的第二部分嵌入至隔离绝缘层中。栅极结构是形成于鳍片式结构和隔离绝缘层上。 | ||
搜索关键词: | 制作 半导体 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种制作半导体装置的方法,其特征在于,该制作半导体装置的方法包含:形成一掺杂层于一基材中;形成接触该掺杂层的一阻绝层;形成一半导体层于该基材和该阻绝层上;通过图案化该半导体层、该阻绝层和该掺杂层,来形成一鳍片式结构,而使该鳍片式结构包含一通道区域与一井区域,其中该通道区域包含该半导体层,且该井区域包含该掺杂层;形成一隔离绝缘层,而使该鳍片式结构的一第一部分从该隔离绝缘层突伸出,且使该鳍片式结构的一第二部分嵌入至该隔离绝缘层中;以及形成一栅极结构于该鳍片式结构和该隔离绝缘层上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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