[发明专利]辐射检查系统和方法

摘要

本发明公开了一种辐射检查系统和方法。其中，辐射检查系统中的辐射成像装置可以逐列扫描被检测物体，以得到被检测物体的多个列扫描图像。可见光成像装置用于在辐射检查过程中对被检测物体进行光学成像，以得到被检测物体的多个光学图像。图像匹配处理器基于预定的匹配规则建立对应于同一被检测物体的列扫描图像和光学图像之间的对应关系。这样，在显示辐射图像时，可以同步地显示与其对应的光学图像，方便安检人员快速确定辐射图像所对应的被检测物体。

主权项

1.一种辐射检查系统，用于在与被检测物体之间具有相对运动的情况下对其进行辐射检查，其特征在于，包括：辐射成像装置，用于逐列扫描被检测物体，以得到所述被检测物体的多个列扫描图像，所述列的方向基本上垂直于所述相对运动的方向；可见光成像装置，在辐射检查过程中与所述辐射成像装置具有固定的相对位置关系，用于在所述辐射检查过程中，对所述被检测物体进行光学成像，以得到所述被检测物体的一个或多个光学图像；图像匹配处理器，用于基于至少一个列扫描图像的扫描成像时间和所述光学图像的拍摄时间，或者基于所述辐射成像装置形成至少一个列扫描图像时与所述被检测物体之间的第一相对位置关系和所述可见光成像装置形成所述光学图像时与所述被检测物体之间的第二相对位置关系，建立对应于同一被检测物体的所述列扫描图像和所述光学图像之间的对应关系，所述图像匹配处理器还基于所述第一相对位置关系整合所述多个列扫描图像，以得到成像比例接近实际的重建扫描图像，并且/或者所述图像匹配处理器还基于所述第二相对位置关系整合所述多个光学图像，以得到成像比例接近实际的重建光学图像。