[发明专利]一种棒状高反射率零件表面缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201610905045.2 申请日: 2016-10-18
公开(公告)号: CN106353340B 公开(公告)日: 2019-07-16
发明(设计)人: 王磊;段子爽 申请(专利权)人: 厦门威芯泰科技有限公司
主分类号: G01N21/952 分类号: G01N21/952
代理公司: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 代理人: 张清彦
地址: 361008 福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提出一种棒状高反射率零件表面缺陷检测方法,涉及表面缺陷检测技术领域,检测步骤如下:1)开启主光源照明,采集得到待检零件第一图像;2)保持第一光源开启状态并同时打开第二光源,采集得到待检零件第二图像;3)对通过步骤1)采集得到的第一图像进行处理,分割提取出待检零件的棒状区域并确定检测区域;4)在通过步骤3)提取得到的棒状区域中对于通过步骤2)采集获得的第二图像进行图像处理,分析检测其表面质量。本发明能够克服棒状高反射率零件表面不均匀的反光造成的机器视觉检测障碍,算法简单,检测高效,可实现对棒状高反射率零件表面的多种不良缺陷的精确检测。
搜索关键词: 一种 棒状高 反射率 零件 表面 缺陷 检测 方法
【主权项】:
1.一种棒状高反射率零件表面缺陷检测方法,检测装置包括主光源和副光源,所述主光源为环形漫射光源,待测零件通过工装夹具夹持在所述主光源的正中心,所述主光源底部对称设有两个观察口,相机通过其中一个所述观察口拍摄待测零件的棒状区域图片,所述副光源通过另一所述观察口对待测零件进行补充照明,其特征在于,该检测装置的检测步骤如下:1)开启主光源照明,采集得到待检零件第一图像;2)保持主光源开启状态并同时打开副光源,采集得到待检零件第二图像;3)对通过步骤1)采集得到的第一图像进行处理,分割提取出待检零件的棒状区域并确定检测区域;4)通过步骤3)提取的待检零件区域截取第二图像的内容,分析检测其表面质量。
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