[发明专利]一种对铀、锆体系X射线荧光基体效应校正方法在审
| 申请号： | 201610906261.9 | 申请日： | 2016-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN106483158A | 公开（公告）日： | 2017-03-08 |
| 发明（设计）人： | 赵峰;廖志海;王占明;乔洪波;安身平;龙绍军 | 申请（专利权）人： | 中国核动力研究设计院 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙)51220 | 代理人： | 冯龙 |
| 地址： | 610000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种对铀、锆体系X射线荧光基体效应校正方法，一种对铀、锆体系X射线荧光基体效应校正方法，包括利用均匀设计理论布置铀、锆体系试验点；用X射线荧光光谱仪采集铀、锆元素的信号强度；建立铀锆元素信号强度与质量浓度的多元回归模型；利用SPSS技术对非线性多元回归方程进行求解；建立基于多元回归分析的铀锆体系基体效应校正方法。本发明利用均匀设计理论布置试验点，使其布置的均匀性、有效地减少试验次数、节省计算时间；创新性地提出以SPSS手段解决非线性多元回归模型的求解问题；以多元回归模型建立铀、锆元素的信号与质量浓度关系，避免复杂基体效应表征问题，解决了铀、锆体系基体效应校正难题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 体系 射线 荧光 基体 效应 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种对铀、锆体系X射线荧光基体效应校正方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1)利用均匀设计理论布置铀、锆体系试验点；步骤2)用X射线荧光光谱仪采集铀、锆元素的信号强度；步骤3)建立铀锆元素信号强度与质量浓度的多元回归模型；步骤4)利用SPSS技术对非线性多元回归方程进行求解；步骤5)建立基于多元回归分析的铀锆体系基体效应校正方法。
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