[发明专利]一种信号相位差的检测方法及系统有效
| 申请号： | 201610907926.8 | 申请日： | 2016-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN106645952B | 公开（公告）日： | 2019-06-25 |
| 发明（设计）人： | 丁毅岭;李国宏 | 申请（专利权）人： | 上海华虹计通智能系统股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R25/08 | 分类号： | G01R25/08 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 200335 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种信号相位差的检测方法，包括：步骤S100获取待检测信号及频率相同且具有基准相位的基准信号，并根据所述待检测信号的信号频率结合所需的检测精度信息获取总采样次数；步骤S200将所述基准信号与所述待检测信号组合成为与所述待检测信号频率相同的待检相差信号；步骤S300根据信号频率获取所述待检相差信号的脉宽个数信息；步骤S400根据所需的检测精度信息和所述脉宽个数信息获取所述待检测信号的相位差信息。本发明的提供了一种信号相位差的检测方法及系统，其目的是通过利用微小差频时钟采样信号实现检测同频相位差。 | ||
| 搜索关键词： | 待检测信号 检测 信号相位差 个数信息 基准信号 精度信息 相差信号 信号频率 脉宽 时钟采样信号 相位差信息 基准相位 相位差 总采样 差频 同频 | ||
【主权项】：
1.一种信号相位差的检测方法，其特征在于，包括：步骤S100获取待检测信号及频率相同且具有基准相位的基准信号，并根据所述待检测信号的信号频率结合所需的检测精度信息获取总采样次数；步骤S200将所述基准信号与所述待检测信号组合成为与所述信号频率相同的待检相差信号；步骤S300根据所述信号频率获取所述待检相差信号的脉宽个数信息；步骤S310根据所述所需的检测精度信息获取检测频率，并根据所述检测频率生成检测方波信号；其中，所述检测频率为高于所述信号频率的检测高频率或低于所述信号频率的检测低频率；步骤S320根据所述检测方波信号与所述待检相差信号进行比对；步骤S330根据所述步骤S320比对的结果对所述待检相差信号的脉宽个数进行检测；步骤340根据所述检测方波信号的检测频率获取所述步骤S330检测并累加的所述待检相差信号的脉宽个数；步骤S400根据所述所需的检测精度信息和所述脉宽个数信息获取所述待检测信号的相位差信息。
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