[发明专利]一种电量管理IC烧录校准校验方法和装置有效
申请号: | 201610908440.6 | 申请日: | 2016-10-17 |
公开(公告)号: | CN106569922B | 公开(公告)日: | 2020-01-24 |
发明(设计)人: | 邓振东;曹志文;陈思波;黄建科 | 申请(专利权)人: | 惠州市蓝微电子有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 44102 广州粤高专利商标代理有限公司 | 代理人: | 陈卫;罗志宏 |
地址: | 516006 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明的一种电量管理IC烧录校准校验方法,所述方法包括:将电路中控制电压基准采样的电路和控制电流基准采样的电路集成于一个新的模块;电压基准采样电路控制万用表采用与万用表并联的方式,电压基准采样点是产品的B+与B‑测试点;电流基准采样电路控制万用表采用与万用表串联的方式,电流基准采样点是产品的B‑与P‑两个测试点;电压基准采集和电流基准采集共同并用了一个测试点B‑;两种模块基准采样电路的调用采用“继电器”切换的模式进行。采取改造后的20通道烧录校准校验一体化设备的,只需要使用一个安捷伦万用表,降低生产成本,节约投入。 | ||
搜索关键词: | 一种 电量 管理 ic 校准 校验 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种电量管理IC烧录校准校验方法,其特征在于,包括:/n将电路中控制电压基准采样的电路和控制电流基准采样的电路集成于一个新的模块;/n电压基准采样电路控制万用表采用与万用表并联的方式,电压基准采样点是产品的B+与B-测试点;电流基准采样电路控制万用表采用与万用表串联的方式,电流基准采样点是产品的B-与P-两个测试点;/n电压基准采集和电流基准采集共同并用了一个测试点B-;两种模块基准采样电路的调用采用”继电器”切换的模式进行;/n当进行电压/电流的基准测试时,首先进行某通道的基准值采样,当采样后基准值与当前通道的基准标准值相比较;/n如果两者差值的绝对值在规定的范围内,则继续下一通道的基准测试;/n如果两者差值的绝对值超出规定的范围,则当前通道启动循环采样的读数模型,启动固定次数的循环采样基准时,把所采样的基准值分别存入电脑内存中,然后去掉当前通道所采样的基准值的最大值和最小值,然后在剩余的采样值中,做4次累加加权平均算法,求得当前通道的基准值,然后所加权平均换算出来的基准值再与此通道的基准标准值比较,如果两者差值绝对值在允许的范围内,则当前通道的基准采样成功,反之则当前通道电压基准采样失败,则继续下一通道的基准采样。/n
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