[发明专利]一种电量管理IC烧录校准校验方法和装置有效

专利信息
申请号: 201610908440.6 申请日: 2016-10-17
公开(公告)号: CN106569922B 公开(公告)日: 2020-01-24
发明(设计)人: 邓振东;曹志文;陈思波;黄建科 申请(专利权)人: 惠州市蓝微电子有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 44102 广州粤高专利商标代理有限公司 代理人: 陈卫;罗志宏
地址: 516006 广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的一种电量管理IC烧录校准校验方法,所述方法包括:将电路中控制电压基准采样的电路和控制电流基准采样的电路集成于一个新的模块;电压基准采样电路控制万用表采用与万用表并联的方式,电压基准采样点是产品的B+与B‑测试点;电流基准采样电路控制万用表采用与万用表串联的方式,电流基准采样点是产品的B‑与P‑两个测试点;电压基准采集和电流基准采集共同并用了一个测试点B‑;两种模块基准采样电路的调用采用“继电器”切换的模式进行。采取改造后的20通道烧录校准校验一体化设备的,只需要使用一个安捷伦万用表,降低生产成本,节约投入。
搜索关键词: 一种 电量 管理 ic 校准 校验 方法 装置
【主权项】:
1.一种电量管理IC烧录校准校验方法,其特征在于,包括:/n将电路中控制电压基准采样的电路和控制电流基准采样的电路集成于一个新的模块;/n电压基准采样电路控制万用表采用与万用表并联的方式,电压基准采样点是产品的B+与B-测试点;电流基准采样电路控制万用表采用与万用表串联的方式,电流基准采样点是产品的B-与P-两个测试点;/n电压基准采集和电流基准采集共同并用了一个测试点B-;两种模块基准采样电路的调用采用”继电器”切换的模式进行;/n当进行电压/电流的基准测试时,首先进行某通道的基准值采样,当采样后基准值与当前通道的基准标准值相比较;/n如果两者差值的绝对值在规定的范围内,则继续下一通道的基准测试;/n如果两者差值的绝对值超出规定的范围,则当前通道启动循环采样的读数模型,启动固定次数的循环采样基准时,把所采样的基准值分别存入电脑内存中,然后去掉当前通道所采样的基准值的最大值和最小值,然后在剩余的采样值中,做4次累加加权平均算法,求得当前通道的基准值,然后所加权平均换算出来的基准值再与此通道的基准标准值比较,如果两者差值绝对值在允许的范围内,则当前通道的基准采样成功,反之则当前通道电压基准采样失败,则继续下一通道的基准采样。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠州市蓝微电子有限公司,未经惠州市蓝微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610908440.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top