[发明专利]双参数免疫磁层析试条有效

专利信息
申请号: 201610912693.0 申请日: 2016-10-19
公开(公告)号: CN106290824B 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: 刘春秀;蔡浩原 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01N33/543 分类号: G01N33/543;G01N33/577
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于磁纳米粒子和层析技术的免疫磁层析多参数试条。涉及磁纳米粒子修饰、磁粒子与抗体结合、层析试条制备技术、微量磁检测技术。其中磁纳米粒子修饰技术通过生物素修饰提高与抗体的结合作用;抗体进行亲和素修饰。磁层析形成的条带既可以通过颜色判断,也可以采用专用磁检测系统准确定量检测。本发明将两个单参数免疫磁层析试条通过支撑夹具固定在一起,可实现对多种病毒或传染病、生化标志物的高精度定量检测,完成特定的生化分析或疾病诊断。由于携带方便,价格低廉,在生命科学、医学和国防等领域的应用潜力巨大。
搜索关键词: 参数 扇形 免疫 层析
【主权项】:
1.一种双参数免疫磁层析试条,包括两个单参数免疫磁层析试条,所述单参数免疫磁层析试条包括样品垫,其特征在于:还包括支撑夹具,所述支撑夹具采用Y型结构将所述两个单参数免疫磁层析试条固定,所述Y型结构包括底部端点、左部端点和右部端点,其中一个单参数免疫磁层析试条的两端分别与所述底部端点和左部端点固定,另一个单参数免疫磁层析试条的两端分别与所述底部端点和右部端点固定;所述两个单参数免疫磁层析试条共用一个样品垫。
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