[发明专利]一种全谱式直读光谱仪的异常光谱剔除方法

摘要

本发明涉及一种全谱式直读光谱仪的异常光谱剔除方法，用于单基体材料的分析，包括：光谱仪标定操作，设定各个探测器监控像素，各个监控像素的光强值组成监控光强，设定位置校正参考光谱，异常光谱剔除操作。本发明的方法能够剔除异常光谱对应的数据，提高分析数据的重复性和准确性。

主权项

1.一种全谱式直读光谱仪的异常光谱剔除方法，其特征在于，所述方法用于单基体材料的分析，包括以下步骤：光谱仪标定操作：在光谱仪标定过程中，激发样品后，多次采集光谱，平均后作为当次分析的光谱，用于标定；光谱仪的各个探测器设定3‑5个像素位置，作为监控像素；将监控像素的光强值记录下来，组成一组向量，作为剔除异常光谱的监控光强向量；设定位置校正参考光谱；（5）根据计算机传输的激发参数和监控像素与光强，开始放电激发样品并采集光谱，计算受控光强与监控光强相关系数并与阈值比较，进行异常光谱剔除，具体操作如下：一、仪器根据激发参数激发样品，分组火花个数为L，则每放电L次，采集一次数据，FPGA控制电路，将探测器接受的光电信号经由A/D转换后成为数字信号，并读入FPGA的内存中，得到一条光谱数据；二、根据计算机传输的监控像素，获取当前受控光强，计算监控光强和受控光强之间的相关系数，如果相关系数低于设定的阈值，则判断该次采集的光谱异常，则该光谱数据直接抛弃，不计入有效光谱，同时异常光谱计数加1，否则该次光谱将与之前采集到的正常光谱值进行累加，同时正常光谱计数加1；三、当分析阶段完成时，正常光谱累加值除以正常光谱数，作为该次分析阶段的光谱数据，传输到计算机，参与后续计算。