[发明专利]一种p型ZnMSnO非晶氧化物半导体薄膜及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201610914173.3 申请日: 2016-10-20
公开(公告)号: CN106711195B 公开(公告)日: 2020-01-17
发明(设计)人: 吕建国;程晓涵;叶志镇 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: H01L29/22 分类号: H01L29/22;H01L29/227;H01L29/786;H01L21/02;C23C14/08;C23C14/35
代理公司: 33231 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 张宇娟;王煦丽
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种p型ZnMSnO非晶氧化物半导体薄膜,所述ZnMSnO中的M元素为过渡金属元素、且自身的氧化物为p型导电,为Cu、Ni、Ag、Au、Fe、Co、Mn元素中的一种,在所述ZnMSnO中M元素为自身的最低价态;所述ZnMSnO中,Zn为+2价,为材料的基体元素;M为最低价态,掺入基体形成p型导电;Sn为+2价,具有球形电子轨道,在非晶状态下电子云高度重合,起到空穴传输通道的作用。本发明还公开了制备p型ZnCuSnO非晶氧化物半导体薄膜的方法,以ZnCuSnO陶瓷片为靶材,采用射频磁控溅射法,制得的p型ZnCuSnO非晶薄膜的空穴浓度10
搜索关键词: 薄膜 非晶氧化物半导体 非晶薄膜 制备 电子云 射频磁控溅射法 空穴 过渡金属元素 可见光透过率 电子轨道 基体元素 空穴传输 陶瓷片 晶体管 重合 氧化物 靶材 掺入 非晶
【主权项】:
1.一种p型ZnMSnO非晶氧化物半导体薄膜,其特征在于:所述ZnMSnO中的M元素为过渡金属元素、且自身的氧化物为p型导电,在所述ZnMSnO中M元素为自身的最低价态;所述ZnMSnO中,Zn为+2价,Sn为+2价;且所述ZnMSnO中M为Cu元素,即ZnMSnO为ZnCuSnO,p型ZnCuSnO非晶薄膜的化学式为ZnCu
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