[发明专利]一种用于相控阵超声探头晶片有效性的测试及评价方法在审
| 申请号： | 201610916368.1 | 申请日： | 2016-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN106290584A | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 田国良 | 申请（专利权）人： | 葫芦岛北检科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/30 | 分类号： | G01N29/30 |
| 代理公司： | 合肥天明专利事务所34115 | 代理人： | 金凯 |
| 地址： | 125001 辽宁省*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及无损检测领域，具体涉及一种用于相控阵超声探头晶片有效性的测试及评价方法。采用相控阵超声仪器激发相控阵探头晶片中每个晶片产生超声波入射到相控阵探头楔块底面产生的回波信号，通过回波信号的幅度判定晶片的有效性。本发明方法操作简单、实用，便于携带，无辐射，无污染，在检测过程中能及时测试晶片的好坏，能保证检测灵敏度和检测结果的准确性，也能提高检测效率。适宜作为相控阵超声探头晶片有效性的测试及评价方法的应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 相控阵 超声 探头 晶片 有效性 测试 评价 方法 | ||
【主权项】：
一种用于相控阵超声探头晶片有效性的测试及评价方法，其特征在于：采用相控阵超声仪器激发相控阵探头中晶片产生超声波入射到相控阵探头楔块底面产生的回波信号，通过回波信号的幅度判定晶片的有效性。
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