[发明专利]一种将杂散光影响分析融入光机热集成分析的技术方法有效
| 申请号： | 201610917494.9 | 申请日： | 2016-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN106546264B | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | 于清华;孙胜利 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种将杂散光影响分析融入光机热集成分析的技术方法。本方法使用热学分析方法中的外热流和角系数，计算分析空间光学仪器的外部杂散光和仪器内部自身辐射达到探测器焦平面的光能量水平，进而利用散粒噪声理论，分析杂散光对空间光学仪器工作性能的影响，从而使杂散光分析与热学分析融为同一个分析过程，实现将杂散光影响分析融入光机热集成分析的一种技术方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 散光 影响 分析 融入 光机热 集成 技术 方法 | ||
【主权项】：
1.一种将杂散光影响分析融入光机热集成分析的技术方法，其特征在于包括以下步骤：1)利用热学分析技术中，将空间光学仪器置于空间轨道条件下的外热流分析技术，结合普朗克辐射定律，计算空间光学仪器在空间轨道条件下受到的太阳、地球反照杂散光的影响；2)利用热学分析技术中，空间光学仪器中光学部件、机械部件的温度场和角系数，计算空间光学仪器红外波段探测器接收到仪器内部自身辐射的影响；3)将探测器接收到的杂散光和仪器内部自身辐射计入光学仪器的散粒噪声，计算得到空间光学仪器的仪器信噪比。
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