[发明专利]沉积颗粒的粒径平均值测量方法在审
| 申请号： | 201610917779.2 | 申请日： | 2014-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN106501139A | 公开（公告）日： | 2017-03-15 |
| 发明（设计）人： | 张元福;姜在兴;王航;张海波 | 申请（专利权）人： | 中国地质大学（北京） |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人： | 刘哲源 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种沉积颗粒的粒径平均值测量方法,包括获取多个沉积颗粒；采用直接测量的方式测量每个沉积颗粒的粒径；若沉积颗粒的粒径小于预设的限度值，则采用仪器测量的方式对该沉积颗粒的粒径进行测量，并得到直接测量值作为粒径测量值；若沉积颗粒的粒径不小于预设的限度值，则将得到的直接测量值作为粒径测量值；根据每个沉积颗粒的所述粒径测量值计算粒径平均值。通过将不同大小的沉积颗粒选择不同的测量方式，提高了测量到的沉积颗粒的粒径的精确度，进而使通过该值计算出的相对水深变化幅度更加准确。同时也避免了一味使用仪器测量而导致的测量时间的延长和成本的增加，又避免了仅仅依靠仪器分析导致粗粒颗粒无法测量的困难。 | ||
| 搜索关键词： | 沉积 颗粒 粒径 平均值 测量方法 | ||
【主权项】：
沉积颗粒的粒径平均值测量方法,其特征在于，包括：获取多个沉积颗粒；采用直接测量的方式测量每个沉积颗粒的粒径；若沉积颗粒的粒径小于预设的限度值，则采用仪器测量的方式对该沉积颗粒的粒径进行测量，并得到直接测量值作为粒径测量值；若沉积颗粒的粒径不小于预设的限度值，则将得到的直接测量值作为粒径测量值；根据每个沉积颗粒的所述粒径测量值计算粒径平均值。
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