[发明专利]扭矩传感器磁通变化检测结构及其检测方法在审
| 申请号： | 201610918807.2 | 申请日： | 2016-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN106405445A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 刘伟伟;田旭辉;来国桥;胡永林;华建平 | 申请（专利权）人： | 杭州飞越汽车零部件有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/02 | 分类号： | G01R33/02 |
| 代理公司： | 杭州融方专利代理事务所(普通合伙)33266 | 代理人： | 金磊,肖茂才 |
| 地址： | 311256 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种扭矩传感器磁通变化检测结构及其检测方法，检测盖体包括检测上盖和检测下盖，检测盖体内设检测腔体，检测腔体内设扭矩传感器磁通变化的检测电路板，检测环上设永磁铁、内检测环和磁通检测片，检测电路板通过磁通检测片对检测环的磁通变化进行检测；检测电路板上开磁通检测通孔，磁通检测通孔正对磁通量检测芯片设置，磁通检测通孔尺寸大于磁通量检测芯片芯体寸，磁通检测片探入在磁通检测通孔内并贴近磁通量检测芯片，磁通检测片为导磁体结构。永磁体和内检测环相对位置发生变化时，磁通量也将发生变化。检测结构紧凑整体尺寸更小，更利用产品小型号发展需求，磁通变化检测灵敏度及准确率均得到更高的检测效果。 | ||
| 搜索关键词： | 扭矩 传感器 变化 检测 结构 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种扭矩传感器磁通变化检测结构，包括检测盖体和永磁体，其特征在于：还包括检测环，检测盖体包括检测上盖和检测下盖，检测盖体内设有检测腔体，检测腔体内设有检测扭矩传感器磁通变化的检测电路板，检测环上设有永磁铁、内检测环和磁通检测片，检测电路板通过磁通检测片对检测环的磁通变化进行检测；检测电路板上开有磁通检测通孔，磁通检测通孔设在磁通量检测芯片正对位置处，且磁通检测通孔的通孔外周尺寸大于磁通量检测芯片的芯片芯体尺寸，磁通检测片探入在磁通检测通孔内并贴近磁通量检测芯片，内检测环与磁通检测片均为导磁体结构。
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