[发明专利]一种SF6断路器弧触头失效检测方法在审
| 申请号： | 201610919706.7 | 申请日： | 2016-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN106556796A | 公开（公告）日： | 2017-04-05 |
| 发明（设计）人： | 傅中;李志兵;王刘芳;刘北阳;程登峰;杨为;杨景刚;刘媛 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院;国网安徽省电力公司电力科学研究院;国网江苏省电力公司电力科学研究院;国家电网公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 北京国林贸知识产权代理有限公司11001 | 代理人： | 李桂玲,杜国庆 |
| 地址： | 100000 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种SF6断路器弧触头失效检测方法，SF6断路器弧触头包括动弧触头和静弧触头，动弧触头和静弧触头相套接触，所述SF6断路器弧触头失效分别包括弧触头接触电阻大于设定电阻阈值和弧触头接触行程减小阈值；所述设定电阻阈值由径向辅助测量验证方法获取；所述设定接触行程减小阈值由轴向辅助测量验证方法验证；本发明可以准确的判断断路器弧触头的失效，该方法根据动态接触电阻分析，同时采用侵蚀前后比对的方法评价断路器弧触头的接触行程；根据该方法的实验数据指导制定断路器检修决策。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 sf6 断路器 弧触头 失效 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种SF6断路器弧触头失效检测方法，SF6断路器弧触头包括动弧触头和静弧触头，动弧触头和静弧触头相套接触，所述SF6断路器弧触头失效分别包括弧触头接触电阻大于设定电阻阈值和弧触头接触行程减小阈值；其特征在于，所述设定电阻阈值由径向辅助测量验证方法获取，其步骤包括：第一步：按照弧触头尺寸结构分别制作一个动弧触头和多个静弧触头，所述多个静弧触头的直径从静弧触头原始设计尺寸依次减小；第二步：分别对依次减小直径的静弧触头与动弧触头做模拟现场的实验测量获取各自的动态接触电阻，其动态接触电阻会随依次减小直径的静弧触头依次增大；第三步：将多个依次增大的电阻值进行比较，当依次增大的一个电阻值的增大跳跃大于一个设定值台阶时，所述的一个电阻值为电阻阈值的预选值；第四步：将所述的预选值与断路器连接导杆的电阻相加得到最终的电阻阈值。
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