[发明专利]一种测试信号产生方法及装置有效
| 申请号： | 201610920467.7 | 申请日： | 2016-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN107978338B | 公开（公告）日： | 2020-09-08 |
| 发明（设计）人： | 任域皞;杨丽宁;孙建伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/48 | 分类号： | G11C29/48;G11C29/36 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 彭瑞欣;张天舒 |
| 地址： | 518055 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试信号产生方法及装置，包括：在寄存器中为测试数据配置第一组数据信息和第二组数据信息；依据所述第一组数据信息，从内存中读取相应的测试数据并存入缓存中；依据所述第二组数据信息，从所述缓存中读取相应的测试数据并对所述测试数据进行输出。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 信号 产生 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测试信号产生方法，其特征在于，所述方法包括：在寄存器中为测试数据配置第一组数据信息和第二组数据信息；依据所述第一组数据信息，从内存中读取相应的测试数据并存入缓存中；依据所述第二组数据信息，从所述缓存中读取相应的测试数据并对所述测试数据进行输出。
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