[发明专利]一种太赫兹器件传输参数的测量系统与方法有效

专利信息
申请号: 201610921578.X 申请日: 2016-10-21
公开(公告)号: CN106571880B 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 龚鹏伟;谢文;谌贝;姜河;马红梅;杨春涛 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: H04B17/15 分类号: H04B17/15;H04B17/29
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉;张雪梅
地址: 100854 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种太赫兹器件传输参数的测量方法,包括以下步骤:S1:采用飞秒激光脉冲激励太赫兹脉冲产生器产生太赫兹脉冲信号;S2:耦合所述太赫兹脉冲信号,输入待测太赫兹器件;S3:耦合待测太赫兹器件的输出信号,得到合成脉冲信号;S4:通过步进延时从所述合成脉冲信号中采集多组数据,得到合成测量数据;S5:将待测太赫兹器件替换为与待测太赫兹器件尺寸相同的标准波导直通件,重复S1‑S4,得到标准测量数据;S6:综合处理所述合成测量数据和所述标准测量数据,得到待测太赫兹器件传输参数的测量结果,本发明同时公开了一种太赫兹器件传输参数的测量系统,本发明能够测量频率范围为100GHz到3THz的太赫兹器件,扩大了测量范围,降低了测量成本。
搜索关键词: 一种 赫兹 器件 传输 参数 测量 系统 方法
【主权项】:
一种太赫兹器件传输参数的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:采用飞秒激光脉冲激励太赫兹脉冲产生器产生太赫兹脉冲信号;S2:通过第一喇叭天线耦合所述太赫兹脉冲信号,输入待测太赫兹器件;S3:通过第二喇叭天线耦合待测太赫兹器件的输出信号,得到合成脉冲信号;S4:通过步进延时从所述合成脉冲信号中采集多组数据,得到合成测量数据;S5:将待测太赫兹器件替换为与待测太赫兹器件尺寸相同的标准波导直通件,重复S1‑S4,得到所述标准波导直通件的标准测量数据;S6:综合处理所述合成测量数据和所述标准测量数据,得到待测太赫兹器件传输参数的测量结果。
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