[发明专利]一种用于芯片操作系统的测试方法在审
| 申请号： | 201610925050.X | 申请日： | 2016-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN106445560A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 张介飞 | 申请（专利权）人： | 合肥微匠信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F9/44 | 分类号： | G06F9/44;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙)11390 | 代理人： | 胡剑辉 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于芯片操作系统的测试方法。包括如下步骤：步骤一，通过对需求评审，进行验收测试设计，进行验收测试；若验收测试出现错误进行回归测试，回归步骤四重复测试；步骤二，通过测试需求分析，系统测试设计，进行系统测试；若系统测试出现错误进行回归测试，回归步骤四重复测试；步骤三，集成测试准备，进行集成测试；若集成测试出现错误进行回归测试，回归步骤四重复测试；详细设计：单元测试准备，进行单元测试；步骤五，得到编码。本发明提供的芯片测试方法保证了软件在开发过程中的质量，目的在于发现程序执行过程中出现的错误、保证用户需求开发过程中的高质量，提高软件开发的效率，降低开发周期。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 操作系统 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种用于芯片操作系统的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一，用户需求：通过对需求评审，进行验收测试设计，进行验收测试；若验收测试出现错误进行回归测试，回归步骤四重复测试；步骤二，需求分析与设计：通过测试需求分析，系统测试设计，进行系统测试；若系统测试出现错误进行回归测试，回归步骤四重复测试；步骤三，概要设计：集成测试准备，进行集成测试；若集成测试出现错误进行回归测试，回归步骤四重复测试；步骤四，详细设计：单元测试准备，进行单元测试；步骤五，得到编码。
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